應(ying)用(yong)于金(jin)相及(ji)工業材料觀察 Leica DM ILM$n模塊化(hua)設(she)計的徠(lai)卡(ka)DM ILM 倒(dao)置金(jin)相顯微(wei)鏡可以快捷并(bing)出(chu)色地完成所有(you)的常(chang)規工業日常(chang)觀察和測量任務。
全新(xin)的(de)(de)徠卡(ka) DM1750 M 是一臺設計(ji)用(yong)于迅速，精確分析(xi)出結(jie)果的(de)(de)顯微(wei)鏡，即使是在粗陋的(de)(de)周圍環(huan)境(jing)中。
徠卡DM12000M全新(xin)的(de)光(guang)學設計,可(ke)以提供宏觀模式快(kuai)速初檢,以及傾斜紫(zi)外光(guang)路功能(OUV, 傾斜紫(zi)外觀察(cha)模式) 不(bu)單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米(mi))硅片(pian)的(de)產能。
