CSPM5500系列研究級(ji)掃描探針顯微鏡

  三(san)種型(xing)號： CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS 

    CSPM5500掃描(miao)探針顯微鏡(jing)工(gong)作模(mo)式簡介

    環(huan)境檢測及控制(zhi)掃描探(tan)針顯微鏡顯微鏡

    磁(ci)力顯(xian)微(wei)鏡/靜電力顯(xian)微(wei)鏡

    液相掃描探針顯(xian)微鏡(jing)

    精(jing)益求精(jing)、信心之選

    納米加(jia)工

主流的研(yan)究(jiu)級專業儀器(qi)，集成原子力顯微鏡(jing)(AFM)，橫向力顯微鏡(jing)(LFM)，掃描隧道(dao)顯微鏡(jing)(STM)

分辨率： 原子力顯微(wei)鏡(jing)：橫(heng)向0.2nm，垂直0.03nm（以云母晶體標定）

 ;              ;掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直(zhi)0.01nm（以(yi)石墨晶(jing)體標定）

高精度計量(liang)型儀器，采用NanoSensors提供(gong)的(de)可溯源(yuan)于計量(liang)機(ji)構(gou)PTB的(de)標準樣品進行校準

一鍵式快速全程全自動進樣，無需(xu)手動預調，行程大(da)于30mm，可容(rong)納超(chao)大(da)樣品，樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm

兩(liang)級可讀(du)數樣(yang)(yang)品(pin)調節機(ji)構，可對樣(yang)(yang)品(pin)進行無偏差的(de)檢測區域定位

一次掃(sao)描(miao)(miao)技術，圖像分辨高(gao)達4096×4096物理象素，微米(mi)級(ji)掃(sao)描(miao)(miao)即可得到納米(mi)級(ji)的實際信息

先進(jin)PID反饋算法(fa)實現快速高精度作用力(li)控制，確保系(xi)統在高速掃(sao)描(miao)中穩(wen)定(ding)成(cheng)像，實際(ji)掃(sao)描(miao)速度提(ti)升(sheng)一(yi)個(ge)數量級

系(xi)統采(cai)用10M/100M快速以太(tai)網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計(ji)算(suan)機連接，支持固(gu)件遠程升級

主控機箱前(qian)面板具(ju)有16×4液晶顯示屏，系統(tong)當前(qian)狀態實時(shi)顯示

具(ju)備實時在線三(san)維(wei)圖像顯示功能，便于用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣(yang)品信息(xi)

集成(cheng)了(le)多(duo)功(gong)能(neng)，多(duo)模式的新型(xing)原子(zi)力(li)顯微鏡

系統功能

原子(zi)力顯微鏡(AFM)：包括接觸(chu)、輕敲、相移成像(xiang)(Phase Imaging)等多種工作模(mo)式

橫向力(li)顯微鏡(LFM)：具有摩(mo)(mo)擦(ca)(ca)力(li)回路曲線、摩(mo)(mo)擦(ca)(ca)力(li)載荷曲線、摩(mo)(mo)擦(ca)(ca)力(li)恒載荷曲線等(deng)摩(mo)(mo)擦(ca)(ca)學(xue)性能分析測量功能

掃描(miao)隧道(dao)顯微鏡(STM)：包(bao)括恒流模(mo)式(shi)、恒高模(mo)式(shi)、I-V曲(qu)(qu)線、I-Z曲(qu)(qu)線等

曲線測量分(fen)析(xi)功能：力-距(ju)離(li)曲線、振幅(fu)-距(ju)離(li)曲線、相(xiang)移-距(ju)離(li)曲線等

選配(pei)功能

納米(mi)加工(gong)：包括圖(tu)形刻蝕模(mo)(mo)式、壓(ya)痕/機械(xie)刻畫(hua)、矢(shi)量(liang)掃(sao)描模(mo)(mo)式、DPN浸(jin)潤(run)筆模(mo)(mo)式等

磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

環(huan)境控制掃(sao)描探針顯微鏡

液相(xiang)掃描探針顯微鏡

導電(dian)原子(zi)力顯微(wei)鏡

掃描(miao)探(tan)針聲學顯微(wei)鏡(jing)

掃(sao)描開爾文(wen)探針顯(xian)微(wei)鏡

掃描電(dian)容(rong)顯(xian)微鏡

壓電力顯微鏡(jing)

樣品溫(wen)度(du)控(kong)制系統（控(kong)溫(wen)范圍：-20～150℃）

樣品(pin)加熱系(xi)統（控溫范圍：室溫～250℃）